Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/5397| Назва: | Вплив ультразвуку на відпал радіаційних дефектів у нейтронно-легованому кремнії |
| Інші назви: | PodoInfluence an Ultrasound on Annealing of Radiation Defects in to Neutron-Alloyed Silicon. |
| Автори: | Подолян, А. О. Podolyan, A. O. |
| Бібліографічний опис: | Подолян, А. О. Вплив ультразвуку на відпал радіаційних дефектів у нейтронно-легованому кремнії / А. О. Подолян // Науковий вісник Волинського національного університету ім. Лесі Українки / Волин. нац. ун-т ім. Лесі Українки ; редкол.: Г. Є. Давидюк [та ін.]. – Луцьк, 2012. – № 16(241) : Фізичні науки. – С. 46-50. – Бібліогр.: с. 49-50. |
| Дата публікації: | 2012 |
| Дата внесення: | 11-чер-2015 |
| Видавництво: | Східноєвропейський національний університет ім. Лесі Українки |
| Теми: | нейтронно-легований кремній радіаційні дефекти neutron-transmutation-doped silicon radiation defects |
| Короткий огляд (реферат): | Шляхом вимірювання часу життя носіїв заряду досліджено вплив термічної та ультразвукової обробок на концентрацію точкових радіаційних дефектів в -опроміненому нейтронно-легованому кремнії. Виявлено, що ультразвук суттєво змінює характер відпалу радіаційних дефектів в інтервалі температур 160 240 0 С. Цей ефект пояснюється стимульованими ультразвуком процесами перебудови точкових дефектів в околі домішково-дефектних скупчень. ; The effects of heat and ultrasound treatment on the concentration of point defects in -irradiated neutrontransmutation-doped silicon were studied by measuring minority carrier lifetimes. It was found that the ultrasound substantially changes the annealing behavior of point defects at temperatures 160 240 0 С. This can be explained by the ultasonically stimulated rearrangements of point defects in the vicinity of defect -impurity clusters. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/5397 |
| Тип вмісту: | Article |
| Розташовується у зібраннях: | Серія "Фізичні науки", 2012, № 16 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 10.pdf | 300,85 kB | Adobe PDF | Переглянути/відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.