<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <title>DSpace Зібрання:</title>
  <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9407" />
  <subtitle />
  <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9407</id>
  <updated>2026-04-15T01:55:45Z</updated>
  <dc:date>2026-04-15T01:55:45Z</dc:date>
  <entry>
    <title>Проблеми моделювання фазових трансформацій в релаксаційній оптиці</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9709" />
    <author>
      <name>Трохимчук, Петро</name>
    </author>
    <author>
      <name>Trokhimchuck, Petro</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9709</id>
    <updated>2018-05-21T11:10:37Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Проблеми моделювання фазових трансформацій в релаксаційній оптиці
Автори: Трохимчук, Петро; Trokhimchuck, Petro
Короткий огляд (реферат): Схарактеризовано проблеми моделювання фазових трансформацій у релаксаційній оптиці. Проаналізовано&#xD;
доцільність використання класичної теорії фазових переходів. Наведено фізико-хімічну модель каскадного&#xD;
поетапного збудження відповідного типу хімічних зв’язків і приклади її використання для опису процесів&#xD;
релаксаційної оптики. Висвітлено вплив нелінійнооптичних явищ на процеси релаксаційної оптики. ; Problems of&#xD;
modeling of phase transformations in Relaxed Optics are discussed. An appropriateness of application of classic theory&#xD;
of phase transitions is analyzed. Physical-chemical model of cascade stepwise excitation of proper types of chemical&#xD;
bonds and examples of their applications for processes of Relaxed Optics are represented. Questions about influence of&#xD;
nonlinear optical phenomena for processes of Relaxed Optics are discussed.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Сучасні методи комп’ютерного моделювання наночастинок і наносистем</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9708" />
    <author>
      <name>Тарасова, Олена</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мерзликін, Павло</name>
    </author>
    <author>
      <name>Tarasova, Olena</name>
    </author>
    <author>
      <name>Merzlykin</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9708</id>
    <updated>2016-06-18T12:14:46Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Сучасні методи комп’ютерного моделювання наночастинок і наносистем
Автори: Тарасова, Олена; Мерзликін, Павло; Tarasova, Olena; Merzlykin
Короткий огляд (реферат): У статті представлено огляд сучасних обчислювальних методів і оцінено ступінь їх застосованості для&#xD;
дослідження нанорозмірних матеріалів. Описано чотири основні підходи, які використовують для моделювання&#xD;
наносистем. Проаналізовано переваги й недоліки кожної групи розглянутих методів. Оцінено співвідношення&#xD;
точності розрахунків і розмірів системи для різних квантово-механічних методів. ; The special role of simulation in nanotechnology is caused by the fact that the traditional research methods are usually&#xD;
very costly and unprofitable. The paper overviews modern computing methods and their suitability for nanoscale&#xD;
materials. The four basic approaches used for nanosystems simulation are described: method of classical (empirical)&#xD;
potential, semi-empirical potential approach, non-empirical approach (modelling from the first principles or ab initio&#xD;
methods) and Monte Carlo method. The classic approach is not enough to provide the study of nuclear interactions in&#xD;
nanometer scale. The semi-empirical methods are best suited for nanoparticles simulation, but not suitable for the&#xD;
creation of adequate nanosystems models. Methods based on density functional theory are the most common calculation&#xD;
methods in solid state physics due to their high computational efficiency (among other first principles methods) and&#xD;
large enough accuracy. Quantum Monte Carlo method is one of the most promising methods for modelling, which&#xD;
allows to simulate the behaviour of systems consisting of millions or billions of atoms.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Узагальнення моделі Охти для дослідження багатошарових Джозефсонівських контактів</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9707" />
    <author>
      <name>Свідзинський, Анатолій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Сахнюк, Василь</name>
    </author>
    <author>
      <name>Пастух, Олександр</name>
    </author>
    <author>
      <name>Шутовський, Арсен</name>
    </author>
    <author>
      <name>Svidzinskiy, Anatoliy</name>
    </author>
    <author>
      <name>Sakhnyuk, Vasyl</name>
    </author>
    <author>
      <name>Pastukh, Oleksandr</name>
    </author>
    <author>
      <name>Shutovskiy, Arsen</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9707</id>
    <updated>2016-06-18T12:08:50Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Узагальнення моделі Охти для дослідження багатошарових Джозефсонівських контактів
Автори: Свідзинський, Анатолій; Сахнюк, Василь; Пастух, Олександр; Шутовський, Арсен; Svidzinskiy, Anatoliy; Sakhnyuk, Vasyl; Pastukh, Oleksandr; Shutovskiy, Arsen
Короткий огляд (реферат): У статті зроблено узагальнено напівкласичну модель Охти для використання її для дослідження n послі-&#xD;
довно розміщених тунельних надпровідних контактів. Використавши запропоновану загальну схему макро-&#xD;
скопічного аналізу таких систем, отримано аналітичний результат для залежності надпровідного струму від&#xD;
різниці фаз параметрів упорядкування в крайніх надпровідниках. ; The effect of tunneling in many layers Josephson junction&#xD;
was analyzed. Modification of Ohta’s model for investigation equilibrium current states in many layers superconducting&#xD;
structures was also proposed. The expression for the dependence of current from phase difference in many barrier&#xD;
contacts was received.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Фотоелектричні властивості кристалу AgGaGeS4</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9657" />
    <author>
      <name>Мирончук, Галина</name>
    </author>
    <author>
      <name>Парасюк, Олег</name>
    </author>
    <author>
      <name>Кримусь, Андрій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Myronchuk, Galyna</name>
    </author>
    <author>
      <name>Parasyuk, Oleh</name>
    </author>
    <author>
      <name>Krymus, Andrii</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9657</id>
    <updated>2016-06-16T20:16:19Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Фотоелектричні властивості кристалу AgGaGeS4
Автори: Мирончук, Галина; Парасюк, Олег; Кримусь, Андрій; Myronchuk, Galyna; Parasyuk, Oleh; Krymus, Andrii
Короткий огляд (реферат): У роботі досліджено кінетику релаксації фотопровідностів в монокристалі AgGaGeS4 Установлено, що час&#xD;
релаксації фотопровідності в кристалах AgGaGeS4 залежить від інтенсивності освітлення та температури.&#xD;
Оцінено глибину залягання пастки. ; Kinetics of&#xD;
photoconductivity relaxation in AgGaGeS4 crystal has been investigated in this work. It has been established that&#xD;
photoconductivity relaxation time in AgGaGeS4 crystals depends on light intensity and the temperature. The depth of&#xD;
trap has been estimated from the experimental data.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Морфометрія та механічні властивості плівок карбону, отриманих магнетронним депонуванням в атмосфері аргону</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9655" />
    <author>
      <name>Коровицький, Андрій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Чосік, Даріуш</name>
    </author>
    <author>
      <name>Федосов, Сергій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Качан, Юрій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Колядинський, Іван</name>
    </author>
    <author>
      <name>Сахарчук, Віктор</name>
    </author>
    <author>
      <name>Korovytskyy, Andrij</name>
    </author>
    <author>
      <name>Chocyk, Dariush</name>
    </author>
    <author>
      <name>Fedosov, Sergiy</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kachan, Yurij</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kolyadynskyy, Ivan</name>
    </author>
    <author>
      <name>Saharchuck, Viktor</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9655</id>
    <updated>2016-06-16T20:11:18Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Морфометрія та механічні властивості плівок карбону, отриманих магнетронним депонуванням в атмосфері аргону
Автори: Коровицький, Андрій; Чосік, Даріуш; Федосов, Сергій; Качан, Юрій; Колядинський, Іван; Сахарчук, Віктор; Korovytskyy, Andrij; Chocyk, Dariush; Fedosov, Sergiy; Kachan, Yurij; Kolyadynskyy, Ivan; Saharchuck, Viktor
Короткий огляд (реферат): У роботі за допомогою вдосконаленої технології отримання стабільного плазмового розряду в робочій&#xD;
камері ВУП5М здійснено напилення тонких плівок карбону. Досліджено структуру та механічні властивості&#xD;
тонких плівок карбону. Установлено, що за цих технологічних умов утворюються аморфні структури карбону.&#xD;
Виявлено, що ці плівки карбону досить «м’якимі» й володіють добрими пружними властивостями. ; Carbon thin films have been deposited by usage of an advanced technology for stable plasma discharge in&#xD;
the vacuum chamber of VUP5M. The structure and mechanical properties of carbon thin films have been studied.&#xD;
Carbon films, formed under such technological conditions, have amorphous structure. It was found, that carbon films&#xD;
are very “soft” and have good elastic properties.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Дослідження спектрального розподілу коефіцієнта поглинання монокристалу Tl1-xIn1-xGexSe2 (x=0,1; 0,2)</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9653" />
    <author>
      <name>Кітик, Іван</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мирончук, Галина</name>
    </author>
    <author>
      <name>Замуруєва, Оксана</name>
    </author>
    <author>
      <name>Парасюк, Олег</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мартинюк, Олександр</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kityk, Ivan</name>
    </author>
    <author>
      <name>Mironchuk, Galyna</name>
    </author>
    <author>
      <name>Zamurueva, Oksana</name>
    </author>
    <author>
      <name>Parasyuk, Oleg</name>
    </author>
    <author>
      <name>Martynyuk, Alexander</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9653</id>
    <updated>2016-06-16T20:02:23Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Дослідження спектрального розподілу коефіцієнта поглинання монокристалу Tl1-xIn1-xGexSe2 (x=0,1; 0,2)
Автори: Кітик, Іван; Мирончук, Галина; Замуруєва, Оксана; Парасюк, Олег; Мартинюк, Олександр; Kityk, Ivan; Mironchuk, Galyna; Zamurueva, Oksana; Parasyuk, Oleg; Martynyuk, Alexander
Короткий огляд (реферат): За дослідженнями спектрального розподілу коефіцієнта поглинання оцінено ширину забороненої зони при&#xD;
непрямих і прямих дозволених переходах. Обчислено термічний коефіцієнт зміни ширини забороненої зони,&#xD;
енергію Урбаха й параметр крутизни спектрів оптичного поглинання за температур 100 ¸300 К для твердих&#xD;
розчинів Tl1-xIn1-xGexSe2 з вмістом (х=0,1; х=0,2). ; From the spectral distribution of the&#xD;
absorption coefficient the band gap for direct and indirect allowed transitions is estimated. The temperature dependence&#xD;
of band gap, Urbach's energy and the steepness of optical absorption spectra at temperatures 100÷300 K for solid&#xD;
solutions Tl1-xIn1-xGexSe2 (x = 0,1; 0,2) is determined.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Отримання й електричні властивості твердих розчинів Tl1-xIn1-xSnxS2 (х=0 – 0,5)</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9652" />
    <author>
      <name>Кітик, Іван</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мирончук, Галина</name>
    </author>
    <author>
      <name>Данильчук, Сергій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Піскач, Людмила</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мозолюк, Марія</name>
    </author>
    <author>
      <name>Божко, Володимир</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kityk, Ivan</name>
    </author>
    <author>
      <name>Myronchuk, Galyna</name>
    </author>
    <author>
      <name>Danylchuk, Sergiy</name>
    </author>
    <author>
      <name>Piskach, Ludmyla</name>
    </author>
    <author>
      <name>Mozolyuk, Mariya</name>
    </author>
    <author>
      <name>Bojko, Volodymyr</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9652</id>
    <updated>2016-06-16T19:55:44Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Отримання й електричні властивості твердих розчинів Tl1-xIn1-xSnxS2 (х=0 – 0,5)
Автори: Кітик, Іван; Мирончук, Галина; Данильчук, Сергій; Піскач, Людмила; Мозолюк, Марія; Божко, Володимир; Kityk, Ivan; Myronchuk, Galyna; Danylchuk, Sergiy; Piskach, Ludmyla; Mozolyuk, Mariya; Bojko, Volodymyr
Короткий огляд (реферат): Розроблено технологічні умови вирощування монокристалів твердих розчинів Tl1-xIn1-xSnxS2 (х=0 – 0,5).&#xD;
Рентгенівським методом порошку розшифрована кристалічна структура сплавів і запропоновано механізм&#xD;
утворення твердого розчину. Досліджено температурну залежність питомої темнової електропровідності, виз-&#xD;
начено енергії активації провідності. ; The technological&#xD;
conditions for growth of solid solutions Tl1-xIn1-xSnxS2 (х=0 – 0,5) single crystals have been developed. The crystal&#xD;
structure of the alloy has been solved by X ray diffraction powder method, the mechanism of the solid solution&#xD;
formation is proposed. The temperature dependence of the specific electrical dark conductivity and the activation&#xD;
energy of conductivity have been determined.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Фотоелектричні дослідження твердого розчину TlInSe2-Si(Ge)Se2 (x=0,1; 0,2)</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9651" />
    <author>
      <name>Кітик, Іван</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мирончук, Галина</name>
    </author>
    <author>
      <name>Замуруєва, Оксана</name>
    </author>
    <author>
      <name>Парасюк, Олег</name>
    </author>
    <author>
      <name>Свідзинський, Анатолій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kityk, Ivan</name>
    </author>
    <author>
      <name>Mironchuk, Galyna</name>
    </author>
    <author>
      <name>Zamurueva, Oksana</name>
    </author>
    <author>
      <name>Parasyuk, Oleg</name>
    </author>
    <author>
      <name>Svidzinskiy, Anatoliy</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9651</id>
    <updated>2016-06-16T19:46:40Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Фотоелектричні дослідження твердого розчину TlInSe2-Si(Ge)Se2 (x=0,1; 0,2)
Автори: Кітик, Іван; Мирончук, Галина; Замуруєва, Оксана; Парасюк, Олег; Свідзинський, Анатолій; Kityk, Ivan; Mironchuk, Galyna; Zamurueva, Oksana; Parasyuk, Oleg; Svidzinskiy, Anatoliy
Короткий огляд (реферат): Монокристали твердого розчину TlInSe2–Si(Ge)Se2 (x=0,1; 0,2) фоточутливі матеріали. Знайдено кратність&#xD;
фотовідклику до монохроматичного світла. Досліджено спектральний розподіл фотопровідності (ФП) монокристалів. ; Single crystals of solid solution TlInS2-Si(Ge)Se2 are&#xD;
photosensitive materials. The spectral distribution of their photoconductivity is studied in this article. In Tl1-xIn1-&#xD;
xSi(Ge)xSe2 (x = 0,1; 0,2) crystals the maximum of intrinsic photoconductivity decreases with increasing x. This can be&#xD;
explained by rising of the concentration of S-recombination centers.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Температурна залежність питомої електропровідності монокристалів Tl1-xIn1-xGexSe2 (x = 0,1; 0,2) уздовж і перпендикулярно до шарів</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9650" />
    <author>
      <name>Кітик, Іван</name>
    </author>
    <author>
      <name>Мирончук, Галина</name>
    </author>
    <author>
      <name>Замуруєва, Оксана</name>
    </author>
    <author>
      <name>Парасюк, Олег</name>
    </author>
    <author>
      <name>Шаварова, Ганна</name>
    </author>
    <author>
      <name>Kityk, Ivan</name>
    </author>
    <author>
      <name>Mironchuk, Galyna</name>
    </author>
    <author>
      <name>Zamurueva, Oksana</name>
    </author>
    <author>
      <name>Parasyuk, Oleg</name>
    </author>
    <author>
      <name>Shavarova, Anna</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9650</id>
    <updated>2016-06-16T19:35:17Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Температурна залежність питомої електропровідності монокристалів Tl1-xIn1-xGexSe2 (x = 0,1; 0,2) уздовж і перпендикулярно до шарів
Автори: Кітик, Іван; Мирончук, Галина; Замуруєва, Оксана; Парасюк, Олег; Шаварова, Ганна; Kityk, Ivan; Mironchuk, Galyna; Zamurueva, Oksana; Parasyuk, Oleg; Shavarova, Anna
Короткий огляд (реферат): Проаналізовано температурні залежності питомої електропровідності в монокристалах Tl1-xIn1-xGexSe2 уздовж&#xD;
та перпендикулярно до шарів. Показано, що в температурному інтервалі 100–300 K спостерігається провідність&#xD;
термозбуджених домішкових носіїв заряду по дозволеній зоні й стрибкова провідність за локалізованими станами. ; We analyzed the temperature dependence of conductivity in monocrystals Tl1-xIn1-xGexSe2 along&#xD;
and perpendicular to the layers. It is shown that in the temperature range 100 – 300 K the conductivity of thermal&#xD;
activated impurity carriers over the allowed band and hopping conductivity over localized states takes place. The&#xD;
activation energy of impurity conductivity is determined. The density of localized states near the Fermi level, the energy&#xD;
spread of these states and the average length of carrier hops at different temperatures is estimated.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Фоточутливість і механізми проходження струму в поверхнево-бар’єрних структурах оксид-Cd0,96Zn0,04Te</title>
    <link rel="alternate" href="https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9649" />
    <author>
      <name>Новосад, Олексій</name>
    </author>
    <author>
      <name>Божко, Володимир</name>
    </author>
    <author>
      <name>Богданюк, Микола</name>
    </author>
    <author>
      <name>Божко, Неоніла</name>
    </author>
    <author>
      <name>Novosad, Oleksiy</name>
    </author>
    <author>
      <name>Bozhko, Volodymyr</name>
    </author>
    <author>
      <name>Bohdanyuk, Mykola</name>
    </author>
    <author>
      <name>Bozhko, Neonila</name>
    </author>
    <id>https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/9649</id>
    <updated>2016-06-16T19:23:19Z</updated>
    <published>2015-01-01T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Назва: Фоточутливість і механізми проходження струму в поверхнево-бар’єрних структурах оксид-Cd0,96Zn0,04Te
Автори: Новосад, Олексій; Божко, Володимир; Богданюк, Микола; Божко, Неоніла; Novosad, Oleksiy; Bozhko, Volodymyr; Bohdanyuk, Mykola; Bozhko, Neonila
Короткий огляд (реферат): Методом термічного окислення в повітряному середовищі монокристалів Cd0,96Zn0,04Te за Т=570 оС отри-&#xD;
мано поверхнево-бар’єрні структури оксид-Cd0,96Zn0,04Te. Досліджено їх стаціонарні вольт-амперні характерис-&#xD;
тики та проаналізовано механізми проходження струму. Показано, що поверхнево-бар’єрні структури оксид-&#xD;
Cd0,96Zn0,04Te проявляють фотовольтаїчні властивості. Особливістю спектрів фотонапруги є один вузький&#xD;
максимум, положення якого відповідає енергії квантів світла hυ≈1,54 еВ, а ширина на половині висоти&#xD;
становить ~120 меВ.; In this work photosensitive&#xD;
oxide-Cd0,96Zn0,04Te surface-barrier structures of Cd0,96Zn0,04Te single crystals with p-type conductivity has been&#xD;
produced and studied. Photosensitive surface-barrier structures were produced by heat-treatment of monocrystalline p-&#xD;
Cd0,96Zn0,04Te plates in the air at temperature near 570 °C for t≈40 min. The stationary current-voltage characteristics of&#xD;
these surface-barrier structures are studied. The current mechanisms and the photosensitivity processes of the structures&#xD;
are being discussed. Rectification coefficient for the best structures, at a voltage close to the cutoff voltage (U0) was&#xD;
~20. For these structures, the initial portion forward of the current-voltage characteristic is described with the&#xD;
conventional diode equation. The reverse steady-state current-voltage characteristic of oxide-Cd0,96Zn0,04Te surfacebarrier&#xD;
structures follows a power law with the m≈2,6 exponent. On the spectrum of photovoltage, there is one with a narrow peak width at half height of ~ 120 meV. The energy position of the maximum the photovoltage was equal to&#xD;
hυ≈1,54 eV.</summary>
    <dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
</feed>

